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IR孔透過率測試儀

IR孔透過率測試儀

簡要描述:
IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀,能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率,可用于實時在線檢測,實現(xiàn)產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

更新日期:2024-04-22

訪問量:1510

廠商性質:生產廠家

生產地址:中國

簡介

   IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀,能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率,可用于實時在線檢測,實現(xiàn)產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

特點
    智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動調整顯示坐標范圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。
    譜圖管理:IR孔透過率測試儀可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
    自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設置判定標準,使檢測更快速,結果更準確。
    譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學元件數(shù)據(jù)庫,可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標準數(shù)據(jù)對比分析結果,用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數(shù)據(jù)導入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。
   CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù),x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。
   數(shù)據(jù)報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。

技術參數(shù)
   型號DMS(1型)DMS(2型)
   探測器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
   檢測范圍380-1000nm360-1100nm
   波長分辨率1nm1nm
   信噪比(全信號)250:11000:1
   相對檢測誤差﹤0。5%(400-800nm)﹤0。2%(400-800nm)
   單次測量時間﹤1s
   樣品尺寸≥Φ1mm
   操作系統(tǒng)/接口WindowsXP,WindowsVista/USB2。0
   電源/功率220V-50HZ/6W

 

 

 

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